檢測(cè)開(kāi)關(guān)是跟其他電路元件接在一起，用來(lái)檢測(cè)元件或電路的參數(shù)（如電流，電壓等）的一種開(kāi)關(guān)，檢測(cè)開(kāi)關(guān)具有感應(yīng)功能，主體通常為各種感應(yīng)開(kāi)關(guān)或接近開(kāi)關(guān)，需要外接電源才能工作，它能根據(jù)其用途具有各式各樣的輸出方法。

D2A-檢測(cè)開(kāi)關(guān)

1. 接點(diǎn)輸出式

以微型開(kāi)關(guān)、限位開(kāi)關(guān)、繼電器的接點(diǎn)為輸出的開(kāi)關(guān)要素，與電磁開(kāi)關(guān)、小型馬達(dá)、電磁器等連接作為主要目的，可進(jìn)行數(shù)安培電流的開(kāi)關(guān)控制。與電子控制設(shè)備連接時(shí)，需注意振動(dòng)時(shí)間、最小負(fù)荷電流。

2. 光電耦合輸出式

檢測(cè)電路電氣絕緣，與接點(diǎn)輸出式的使用方法相同。可控制10～50mA電流的開(kāi)關(guān)。

3. 直流3線式

a. 電壓輸出型

如圖7所示的輸出電路，進(jìn)行檢測(cè)時(shí)，向負(fù)荷輸出電壓信號(hào)。電壓輸出型主要是以連接由電子計(jì)數(shù)器、無(wú)接點(diǎn)繼電器等的晶體管或IC構(gòu)成的電子控制設(shè)備為目的而制造的。

b. 電流輸出型

亦可稱為開(kāi)放、集電極輸出型。如圖8所示，輸出晶體管動(dòng)作時(shí)，有吸入電流的NPN型(電流吸收)和吐出電流的PNP型(電流源)。輸出晶體管中使用小容量的功率晶體管，則可進(jìn)行50～200mA電流的開(kāi)關(guān)，并可直接進(jìn)行電磁繼電器、電磁閥、直流電磁器、顯示燈等負(fù)荷的驅(qū)動(dòng)。

4. 直流2線式

該方式的接近開(kāi)關(guān)有2根導(dǎo)線，因此，使用時(shí)對(duì)極性予以注意的話，不僅使用方法可與機(jī)械式限位開(kāi)關(guān)相同，而且配線簡(jiǎn)單，但需注意下述狀況。

(1) 即使開(kāi)關(guān)處于關(guān)閉狀態(tài)，也需向接近開(kāi)關(guān)的檢測(cè)電路供給電流。為此，負(fù)荷中有微量電流流動(dòng)。該電流稱為漏電流。漏電流時(shí)，負(fù)荷兩端產(chǎn)生“漏電流×負(fù)荷也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時(shí)間，根據(jù)制造方法的不同而不同，不能一概而論，一般多發(fā)生在使用開(kāi)始后的一星期到10天內(nèi)。

2. 偶發(fā)故障

包括由于半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的斷線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近開(kāi)關(guān)經(jīng)常發(fā)生故障時(shí)，可以考慮為使用環(huán)境的問(wèn)題，請(qǐng)向廠家咨詢。

3. 負(fù)荷短路與配線錯(cuò)誤

由于配線錯(cuò)誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時(shí)，導(dǎo)致大電流流向檢測(cè)開(kāi)關(guān)，輸出回路燒毀。作為在檢測(cè)開(kāi)關(guān)外進(jìn)行的保護(hù)對(duì)策，可使用切斷快速短路電流的方法，通過(guò)熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，還對(duì)地線有保護(hù)作用。但是，由于開(kāi)關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達(dá)不到100[%]的效果。

4. 干擾波導(dǎo)致的破損

由干擾波帶來(lái)的破損是慢慢形成的，因此在開(kāi)始使用后的一個(gè)月或二三個(gè)月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該期間發(fā)生破損時(shí)，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開(kāi)閉時(shí)發(fā)生的檢測(cè)開(kāi)關(guān)的瞬間錯(cuò)誤動(dòng)作是由干擾波造成的。

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